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一种适用于低精度有方位基准双轴转位设备的惯性测量单元标定方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410145102.2
  • IPC分类号:G01C25/00
  • 申请日期:
    2014-04-11
  • 申请人:
    湖北航天技术研究院总体设计所
著录项信息
专利名称一种适用于低精度有方位基准双轴转位设备的惯性测量单元标定方法
申请号CN201410145102.2申请日期2014-04-11
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-08-20公开/公告号CN103994775A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C25/00IPC分类号G;0;1;C;2;5;/;0;0查看分类表>
申请人湖北航天技术研究院总体设计所申请人地址
湖北省武汉市东西湖区金山大道9号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人湖北航天技术研究院总体设计所当前权利人湖北航天技术研究院总体设计所
发明人穆杰;刘明;周海;罗伟
代理机构武汉开元知识产权代理有限公司代理人王和平;陈懿
摘要
本发明公开了适用于低精度有方位基准双轴转位设备的惯性测量单元标定方法,属于惯性技术领域。该标定方法使用低精度有方位基准双轴转位设备,标定旋转共19个位置,然后以各个位置上的速度误差和天向姿态误差拟合出一阶中间参数Δg和二阶中间参数,最后依据中间参数与误差参数的关系,由最小二乘法得到各个器件误差参数,为了有效消除由转台引起的定位误差,将前一次迭代计算得到的误差参数和原有的惯性测量单元输出数据代入到导航方程中,再进行一次观测量、中间参数和误差参数残差的解算,然后对误差参数进行残差补偿。依此类推,直至迭代计算得到的误差参数残差小于阈值。该标定方法可以大幅降低标定对转台精度的依赖性,具有很好的工程实用性。

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