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晶圆加工方法和半导体器件的制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201811315385.5
  • IPC分类号:H01L21/3105;H01L21/311
  • 申请日期:
    2018-11-06
  • 申请人:
    深圳方正微电子有限公司
著录项信息
专利名称晶圆加工方法和半导体器件的制备方法
申请号CN201811315385.5申请日期2018-11-06
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2019-04-12公开/公告号CN109616414A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/3105
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;3;1;0;5;;;H;0;1;L;2;1;/;3;1;1查看分类表>
申请人深圳方正微电子有限公司申请人地址
广东省深圳市龙岗区宝龙工业城宝龙七路5号方正微电子工业园 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳方正微电子有限公司当前权利人深圳方正微电子有限公司
发明人贺冠中
代理机构深圳中一联合知识产权代理有限公司代理人张全文
摘要
本发明属于半导体器件技术领域,具体涉及一种晶圆加工方法和半导体器件的制备方法。该晶圆加工方法包括如下步骤:提供碳化硅晶圆;所述碳化硅晶圆表面形成有多个管芯,相邻两管芯之间由划片道隔开;在所述碳化硅晶圆上涂布聚酰亚胺层,且所述聚酰亚胺层覆盖所述多个管芯和划片道;用光掩膜对所述聚酰亚胺层进行光刻处理,得到聚酰亚胺图案层;其中,所述聚酰亚胺图案层由相互隔开的第一聚酰亚胺材料图案和第二聚酰亚胺材料图案组成,所述第一聚酰亚胺材料图案包裹住所述管芯的边缘并延伸至所述划片道上,所述第二聚酰亚胺材料图案位于所述划片道上;以及沿所述划片道上进行切割处理。

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