测试工具结构

发明专利无效专利

申请号：
CN201010572583.7
IPC分类号：G01R1/04
申请日期：
2010-11-29
申请人：
英业达股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测试工具结构
申请号	CN201010572583.7	申请日期	2010-11-29
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-30	公开/公告号	CN102478589A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	英业达股份有限公司	申请人地址	中国台湾台北市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	英业达股份有限公司	当前权利人	英业达股份有限公司
发明人	黄皓逸
代理机构	北京律诚同业知识产权代理有限公司	代理人	梁挥;张燕华

摘要

一种测试工具结构，适于固定一具有开口的电路板。测试工具结构包括一本体以及一压扣件。本体供电路板置放于其上，压扣件枢设于本体之上。当压扣件位于一装设位置时，电路板以开口套设于压扣件。当压扣件枢转至一压抵位置时，压扣件抵持电路板，以固定并保持电路板于本体之上。此种测试工具结构可用以省却人工置放电路板的步骤，并且缩短电路板组装时的工时，以及提高电路板测试时的效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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