改进的加速老化装置

发明专利有效专利

申请号：
CN02108736.9
IPC分类号：G01N1/44
申请日期：
2002-04-01
申请人：
阿特拉斯材料技术有限责任公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	改进的加速老化装置
申请号	CN02108736.9	申请日期	2002-04-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2002-11-13	公开/公告号	CN1379230
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20） G01N1/44 包括辐照的样品处理，例如，加热〔6〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;4;4查看分类表>
申请人	阿特拉斯材料技术有限责任公司	申请人地址	美国伊利诺斯变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	阿特拉斯材料测试技术有限责任公司	当前权利人	阿特拉斯材料测试技术有限责任公司
发明人	雷杰·拉索德;理查德·D·多纳托
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	王永刚

摘要

一种用于加速老化检测样品的装置，包括放电灯，它作为集束光源用于加速检测样品的颜色、组成和/或结构的退化。还包括了改进的控制校准结构以及操作方法。检测模块从改进的位置上监视老化检测过程，以样品被暴露到所述的辐照中这样一种方式探测辐照。检测模块被安装在形成在检测室的门中的容器中，使得模块的灵敏电子元件不被暴露到检测室中的恶劣环境下，导致异常稳定的信号。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供