检测系统、探针装置及面板检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810878812.4
IPC分类号：G01R1/073;G01R31/26;G01R19/00
申请日期：
2018-08-03
申请人：
均豪精密工业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	检测系统、探针装置及面板检测方法
申请号	CN201810878812.4	申请日期	2018-08-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-02-28	公开/公告号	CN110850126A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/073 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕 G01R1/073 多个探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;7;3;;;G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;R;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	均豪精密工业股份有限公司	申请人地址	中国台湾变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	均豪精密工业股份有限公司	当前权利人	均豪精密工业股份有限公司
发明人	李茂杉;陈秄汯;张伯墉
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	梁丽超;刘彬

摘要

本发明公开了检测系统、探针装置及面板检测方法。一种探针装置、包含有该探针装置的检测系统及利用该探针装置对面板的晶体管进行漏电流检测的面板检测方法。探针装置包含有多个第一探针及至少一个第二探针，第一探针及第二探对应通过第一电连接线及第二电连接线电性连接检测系统的检测设备。当多个第一探针接触面板的晶体管，以进行漏电流检测时，第二探针不与面板相接触。检测设备将可依据第一探针的量测结果及第二探针的量测结果，对应产生一结果信息。相关人员或是计算机设备，将可依据结果信息，而更精确地得知第一探针的量测结果。

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