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线圈矢量磁力仪几何轴与磁轴夹角电学检测系统及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010849023.5
  • IPC分类号:G01V3/40
  • 申请日期:
    2020-08-21
  • 申请人:
    中国地质大学(武汉)
著录项信息
专利名称线圈矢量磁力仪几何轴与磁轴夹角电学检测系统及方法
申请号CN202010849023.5申请日期2020-08-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2020-12-25公开/公告号CN112130217A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01V3/40IPC分类号G;0;1;V;3;/;4;0查看分类表>
申请人中国地质大学(武汉)申请人地址
湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国地质大学(武汉)当前权利人中国地质大学(武汉)
发明人葛健;钱君立;董浩斌;王锐;郑千玮;霍治帆
代理机构武汉知产时代知识产权代理有限公司代理人孔灿
摘要
本发明提供了线圈矢量磁力仪几何轴与磁轴夹角电学检测系统及方法。将所述电学检测系统放置于地磁环境下,保持所述Helmholtz线圈与所述无磁转台为关闭状态,获得地磁环境磁场大小;向所述Helmholtz线圈中施加激励电流,产生线圈磁场,计算出线圈磁场大小;持续向所述Helmholtz线圈中施加激励电流,且电流大小不变,开启所述无磁转台,利用所述无磁转台带动所述Helmholtz线圈在水平面上旋转一周,通过所述总场传感器获得所述地磁环境磁场与所述线圈磁场的合成磁场值的最大值和最小值;基于所述合成磁场值的最大值和最小值,计算出所述Helmholtz线圈的几何中心轴向与磁轴向的偏离角度。本发明的有益效果是:操作简单,成本低,实现了无需借助额外检测工具的情况下对线圈矢量磁力仪几何轴向与磁轴向一致性的高精度检测。

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