光纤色散测量系统及其使用方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010176001.3
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2010-05-19
申请人：
中国人民解放军国防科学技术大学

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著录项信息

专利名称	光纤色散测量系统及其使用方法
申请号	CN201010176001.3	申请日期	2010-05-19
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-09-01	公开/公告号	CN101819086A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国人民解放军国防科学技术大学	申请人地址	湖南省长沙市砚瓦池正街47号中国人民解放军国防科学技术大学光电学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军国防科学技术大学	当前权利人	中国人民解放军国防科学技术大学
发明人	侯静;王泽锋;陈胜平;陈子伦;陈金宝;刘泽金;姜宗福;舒柏宏
代理机构	湖南兆弘专利事务所	代理人	陈晖;杨斌

摘要

本发明属于光学测试设备及其使用方法领域，具体公开了一种光纤色散测量系统，其包括光源系统和干涉测量系统，光源系统包括沿光路依次布设的脉冲激光器、光隔离器、窄带滤波片、反射镜组和光源用光子晶体光纤；干涉测量系统包括分束器、接收分束器反射、透射光束的测量臂和参考臂，测量臂中布设有待测光纤组件；光源用光子晶体光纤的两端连接有三维光纤耦合平台；分束器另设有一输出端，该输出端后的光路上依次布设有偏振器、窄带滤波器、无截止单模光子晶体光纤组件和数据收集处理系统。通过选用一特定空气孔结构的高非线性光子晶体光纤作为光源用光子晶体光纤可以使该系统产生超连续谱白光，以进行色散系数的高精度、高效率、低成本测量。

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