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一种基于仿射聚类分析的入侵检测方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010611171.X
  • IPC分类号:H04L29/06;G06F17/30
  • 申请日期:
    2010-12-29
  • 申请人:
    深圳市永达电子股份有限公司
著录项信息
专利名称一种基于仿射聚类分析的入侵检测方法
申请号CN201010611171.X申请日期2010-12-29
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2011-05-04公开/公告号CN102045357A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04L29/06IPC分类号H;0;4;L;2;9;/;0;6;;;G;0;6;F;1;7;/;3;0查看分类表>
申请人深圳市永达电子股份有限公司申请人地址
广东省深圳市南山区高新技术南区深圳国际创新研究院研发大楼D301-309室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市永达电子股份有限公司当前权利人深圳市永达电子股份有限公司
发明人张江;戚建淮
代理机构北京英特普罗知识产权代理有限公司代理人孙丽芳
摘要
本发明公开了一种基于仿射聚类分析的入侵检测方法,包括以下步骤:步骤1,建立入侵检测数据库的特征数据向量,并对所述特征数据向量进行标准化处理;步骤2,所述特征数据向量作为仿射聚类分析的输入数据向量,对计算机网络上的用户行为数据向量进行仿射聚类分析,所述仿射聚类分析的方法为先建立特征数据向量的测度矩阵,其中,以相关系数作为各特征数据向量之间的相似度;再对特征数据向量进行仿射聚类分析,得出识别结果。基于仿射聚类来建立入侵检测模型可以优化或完全抛弃既有模型,对用户行为重新划分,从中不断挖掘新的潜在模式,使该方法在入侵检测领域有广泛的应用前景。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供