一种基于双FP腔的同轴分幅高速成像和干涉测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410406266.6
IPC分类号：G01D5/26
申请日期：
2014-08-19
申请人：
中国工程物理研究院流体物理研究所

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专利名称	一种基于双FP腔的同轴分幅高速成像和干涉测量方法
申请号	CN201410406266.6	申请日期	2014-08-19
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-11-05	公开/公告号	CN104132676A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D5/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D5/00 用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器（G01D 3/00优先；专门适用于给出除变量的瞬时值以外的结果的仪表入G01D 1/00）〔6〕 G01D5/26 采用光学装置，即应用红外光、可见光或紫外光	IPC分类号	G;0;1;D;5;/;2;6查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院流体物理研究所	申请人地址	四川省绵阳市游仙区绵山路64号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院流体物理研究所	当前权利人	中国工程物理研究院流体物理研究所
发明人	陈光华;彭其先;邓向阳;刘寿先;李建中
代理机构	成都九鼎天元知识产权代理有限公司	代理人	徐宏;吴彦峰

摘要

本发明公开了一种基于双FP腔的同轴分幅高速成像和干涉测量方法，包括将激光分为若干路光束，光束通过光程不等的前FP腔，使得每束光具有不同的脉冲间隔，再通过分光镜将光束合成一路照明光照射物体，经物体反射或透射后的光通过分光镜分成若干路光束，每一束光通过一个后FP腔后到CCD。本发明无参考光全光光路将FP干涉图像在时间和空间上分开，而不需要借助机械或光电快门，可以同时实现高的时间分辨和空间分辨能力；二是具备同轴分幅成像能力，即每幅图像具有相同的视角；三是可用于任意反射物体和透射物体的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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