一种基于散射介质实现超分辨显微成像方法及其装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110538402.7
IPC分类号：G01N21/47;G01N21/49;G01N21/17
申请日期：
2021-05-17
申请人：
太原理工大学

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专利名称	一种基于散射介质实现超分辨显微成像方法及其装置
申请号	CN202110538402.7	申请日期	2021-05-17
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-20	公开/公告号	CN113281305A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/47 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/47 散射，即漫反射（G01N 21/25，G01N 21/41优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;7;;;G;0;1;N;2;1;/;4;9;;;G;0;1;N;2;1;/;1;7查看分类表>
申请人	太原理工大学	申请人地址	山西省太原市万柏林区迎泽西大街79号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	太原理工大学	当前权利人	太原理工大学
发明人	王东;赵文静;翟爱平;张腾
代理机构	太原市科瑞达专利代理有限公司	代理人	李富元

摘要

本发明属于光学显微成像、散射光学以及计算成像交叉领域。基于散射介质实现超分辨显微成像装置主要由照明装置1、载物台2、待观测目标3、散射介质4、光阑5、面阵探测器6和中央处理器7构成。其中，面阵探测器6与散射介质4之间的距离，需要通过考虑探测的散斑图满足奈奎斯特定理来确定；待观测目标3到散射介质4的距离，由显微成像具体的视场和分辨率来确定。光阑5紧靠散射介质4；待观测目标3置于载物台2上，由中央处理器7控制照明装置1主动引入稀疏且随机点光源照明。本发明还涉及基于散射介质实现超分辨显微成像方法。

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