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一种激光器光学模块测试方法及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202211109638.X
  • IPC分类号:G01M11/02
  • 申请日期:
    2022-09-13
  • 申请人:
    武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
著录项信息
专利名称一种激光器光学模块测试方法及系统
申请号CN202211109638.X申请日期2022-09-13
法律状态公开申报国家暂无
公开/公告日2022-12-06公开/公告号CN115436024A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人武汉锐科光纤激光技术股份有限公司申请人地址
湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉锐科光纤激光技术股份有限公司当前权利人武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
发明人陆春;闫大鹏;黄思琪;高鹏;熊肸;吴飞荣;王敬之
代理机构北京睿阳联合知识产权代理有限公司代理人孙磊
摘要
本发明实施例涉及一种激光器光学模块测试方法及系统。该方法包括根据待测模块物料信息确定与其对应的测试方案选项;当待测模块置于测试平台上接触X轴阻挡构件和Y轴阻挡构件并触发所述X轴阻挡构件和Y轴阻挡构件上的接触开关,通过所述上位机控制X轴夹紧组件和Y轴夹紧组件工作将所述待测模块夹紧;在为所述待测模块连接水冷和电源后,当通过所述上位机获取到柜门检测组件检测到柜门关闭且所述测试箱的启动按钮被按下,所述上位机通过测试软件进行预设的自动测试过程;开启水冷,将冷却水接入待测模块内;控制电源按照设定电流为待测模块供电,并获取测试组件检测的预设检测项;若待测模块出现异常,控制电源和水冷停止工作。

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