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两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪

外观设计专利无效专利
  • 申请号:
    CN201030154148.3
  • LOC分类号:--
  • 申请日期:
    2010-04-27
  • 申请人:
    深圳市彩虹谷科技有限公司
著录项信息
专利名称两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪
申请号CN201030154148.3申请日期2010-04-27
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无LOC分类号暂无查看分类表>
申请人深圳市彩虹谷科技有限公司申请人地址
广东省深圳市福田区沙嘴村金地工业区135栋6层 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市彩虹谷科技有限公司当前权利人深圳市彩虹谷科技有限公司
发明人尉士民
代理机构暂无代理人暂无
摘要
1.该外观设计产品的名称是:两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪。2.省略后视图、俯视图和仰视图。3.该外观设计产品主要用于监测特定环境的颗粒物浓度,来进行环境污染状况评估,利于采取有效措施进行环境保护。4.该外观设计产品的校准装置部分采用侧面式导入设计,方便操作,方便存放。5.指定立体图用于出版专利公报。

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