一种冷镜式露点测试仪的光路系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201220352367.6
IPC分类号：G01N25/68
申请日期：
2012-07-19
申请人：
上海电控研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种冷镜式露点测试仪的光路系统
申请号	CN201220352367.6	申请日期	2012-07-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/68 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/56 通过测定水分的含量 G01N25/66 通过测试露点 G01N25/68 通过冷凝表面温度的改变	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;6;8查看分类表>
申请人	上海电控研究所	申请人地址	上海市杨浦区江浦路1380号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海电控研究所	当前权利人	上海电控研究所
发明人	水浩淼;李祥伟;姚胜卫
代理机构	上海汉声知识产权代理有限公司	代理人	郭国中

摘要

本实用新型公开一种冷镜式露点测试仪的光路系统；用于对测量头镜面上的露点状况进行检测，包括：点光源，其发出的一部分光线通过挡光螺钉照射到补偿硅光电池，另一部分光线通过透镜一变成平行光照射到镜面上，平行光在镜面上发生反射通过透镜二聚焦到光阑上；当镜面上有露时，射到镜面的平行光发生漫反射，平行光变成发散光通过透镜二大部分从光阑漏过，射到工作硅光电池上，工作硅光电池将此光信号传输给所述测试仪中的光路调理电路。本实用新型采用双光路系统，以消除环境温度对硅光电池输入特性、光源的波动及其它共同因素引起的测量误差，提高测量精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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