自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法及装置

发明专利null

申请号：
CN200510020324.2
IPC分类号：G01B11/16;G01N3/08
申请日期：
2005-02-01
申请人：
重庆大学

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著录项信息

专利名称	自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法及装置
申请号	CN200510020324.2	申请日期	2005-02-01
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2005-08-03	公开/公告号	CN1648601
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6;;;G;0;1;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人	重庆大学	申请人地址	变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆亚派桥梁工程质量检测有限公司	当前权利人	重庆亚派桥梁工程质量检测有限公司
发明人	陈伟民;朱永;符欲梅;黄尚廉
代理机构	重庆弘旭专利代理有限责任公司	代理人	侯懋琪

摘要

本发明涉及一种自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法及装置。该装置包括安装在被测目标上的靶标、光电摄像系统及计算机，其靶标为两个具有规则形状、相互间隔一定距离的光源。本发明还涉及一种以该装置进行自标定、自编码成像法多点动态挠度/位移测量的方法。本发明的优点是：实现成像倍率自标定、靶标自编码，动态测量简单。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN2532475Y	暂无	2001-07-07	直接投射式光电挠度位移测量装置失效专利	重庆大学

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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