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一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202211309774.3
  • IPC分类号:G01S7/41;G01S7/40;G01S13/88
  • 申请日期:
    2022-10-25
  • 申请人:
    北京测威科技有限公司;中国兵器工业第五九研究所;北京航空航天大学云南创新研究院
著录项信息
专利名称一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统
申请号CN202211309774.3申请日期2022-10-25
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2022-11-22公开/公告号CN115372930A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S7/41IPC分类号G;0;1;S;7;/;4;1;;;G;0;1;S;7;/;4;0;;;G;0;1;S;1;3;/;8;8查看分类表>
申请人北京测威科技有限公司;中国兵器工业第五九研究所;北京航空航天大学云南创新研究院申请人地址
北京市海淀区知春路甲48号3号楼1单元6A室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京测威科技有限公司,中国兵器工业第五九研究所,北京航空航天大学云南创新研究院当前权利人北京测威科技有限公司,中国兵器工业第五九研究所,北京航空航天大学云南创新研究院
发明人吴护林;彭刚;洪韬;张天才;陈知华;李忠盛;徐塱;邓贤明;田进军;项运良;方林全;张小华
代理机构北京三环同创知识产权代理有限公司代理人邵毓琴;赵勇
摘要
本发明实施方式提供一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统,涉及外场RCS测量领域。所述测量系统包括外场RCS测量装置,用于在外场对设置在目标区域的全尺寸目标进行雷达RCS测量;透波罩,其由透波材料制成,用于在进行所述RCS测量时,隔绝所述透波罩外部的外场环境对所述目标区域的背景电平的影响;其中,所述目标区域位于所述透波罩与承载面共同界定的内部空间中,所述目标区域与所述透波罩之间的最小间隔大于第一阈值。通过设置透波罩笼罩设置全尺寸目标的目标区域,可以避免天气等外场环境对目标区域背景电平的影响,保证背景对消技术对目标区域生效。

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