一种继电器类单机加速贮存试验测试装置及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610178427.X
IPC分类号：G01R31/327
申请日期：
2016-03-25
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	一种继电器类单机加速贮存试验测试装置及测试方法
申请号	CN201610178427.X	申请日期	2016-03-25
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2016-08-17	公开/公告号	CN105866666A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/327 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/327 电路断续器、开关或电路断路器的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;2;7查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	翟国富，郑博恺，付饶，董宝旭，叶雪荣，林义刚;王玉森;张国彬
代理机构	北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司	代理人	孙皓晨

摘要

本发明公开了一种继电器类单机加速贮存试验测试装置，用于对多个继电器类单机进行加速贮存测试，每一继电器类单机均包括多个输入输出端子，其包括：多个恒温恒湿试验箱、智能报警系统、端子切换与控制电路、接触电阻测量电路、时间参数测量电路和上位机系统，其中：上位机系统分别与端子切换与控制电路和时间参数测量电路连接，上位机系统向端子切换与控制电路和时间参数测量电路发送参数设置命令、系统自检命令及开始测试命令，端子切换与控制电路连接在多个继电器类单机与接触电阻测量电路之间，接触电阻测量电路用于测试继电器类单机中每一个输入输出端子处的接触电阻值以及将测得的接触电阻值发送至上位机系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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