双光束分光系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201410182251.6
IPC分类号：G01J3/28;G01J3/02;G01J3/04;G01J3/18
申请日期：
2014-04-30
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	双光束分光系统
申请号	CN201410182251.6	申请日期	2014-04-30
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-08-13	公开/公告号	CN103983354A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;0;4;;;G;0;1;J;3;/;1;8查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	颜昌翔;刘怡轩
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	南小平

摘要

双光束分光系统属于光谱仪器设计领域，目的在于解决现有技术存在体积大成本高和由于光谱重叠造成的测量错误的问题。本发明的双光束分光系统包括入射狭缝Ⅰ、入射狭缝Ⅱ、衍射光栅和探测器，所述入射狭缝Ⅰ和入射狭缝Ⅱ按长度方向排列，分别经入射狭缝Ⅰ和入射狭缝Ⅱ输入的样品光和参考光分别经衍射光栅色散，经衍射光栅色散后的样品光束光谱和参考光束光谱在探测器上并排排列。本发明的双光束分光系统通过长度方向上并排设置的入射狭缝Ⅰ和入射狭缝Ⅱ入射样品光和参考光，并经过衍射光栅和探测器获得样品光束光谱和参考光束光谱，使一个分光系统实现双光束分光系统的功能，且两束光不会重叠串扰，避免由于光束重叠带来的测量错误的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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