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光学晶体元件激光损伤阈值检测装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910073207.0
  • IPC分类号:G01N21/84
  • 申请日期:
    2009-11-13
  • 申请人:
    哈尔滨工业大学
著录项信息
专利名称光学晶体元件激光损伤阈值检测装置
申请号CN200910073207.0申请日期2009-11-13
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2010-05-12公开/公告号CN101706444A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/84IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人哈尔滨工业大学申请人地址
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人哈尔滨工业大学当前权利人哈尔滨工业大学
发明人陈明君;李明全;姜伟;姜文斌;陈宽能
代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所代理人牟永林
摘要
一种光学晶体元件激光损伤阈值检测装置,属于光学晶体元件激光损伤阈值检测技术领域。它解决了目前没有专用检测装置来实现光学晶体元件激光损伤阈值的精确测试的问题。它利用控制计算机编程来控制伺服电动机和平板直线电机的运动,使光学晶体元件上起始测试区域处于激光光束路径上,通过竖直微位移工作台和水平微位移工作台调整CCD摄像头与光学晶体元件之间的相对位置,伺服电动机的旋转运动通过滚珠丝杠转化为滚珠丝母的直线运动,滚珠丝母带动丝母滑块上下运动,从而带动L形直线电机支撑板的上下运动,使平板直线电机可以上下调节光学元件夹具体的高度。本发明用于光学晶体元件激光损伤阈值的检测。

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