一种测量强散射介质非线性折射率系数的谱域z扫描方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202210818290.5
IPC分类号：G01N21/41;G01N21/01
申请日期：
2022-07-13
申请人：
南开大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测量强散射介质非线性折射率系数的谱域z扫描方法
申请号	CN202210818290.5	申请日期	2022-07-13
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2022-11-01	公开/公告号	CN115266642A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/41 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;1;;;G;0;1;N;2;1;/;0;1查看分类表>
申请人	南开大学	申请人地址	天津市南开区卫津路94号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南开大学	当前权利人	南开大学
发明人	齐鹏飞;钱文启;曾茜;孙昌林;林列;张楠;刘伟伟
代理机构	天津耀达律师事务所	代理人	侯力

摘要

一种测量强散射介质非线性折射率系数的谱域z扫描方法。首先使用Matlab软件对脉冲在介质中的传输过程进行模拟，建立待测样品出射光谱的展宽大小与z轴上最大非线性相移Δφmax之间的关系曲线，然后实验中入射光束首先经过高反镜，微弱的透射光入射至功率计用于监测激光器抖动，另一束较强反射光经透镜聚焦到待测样品，待测样品放置于电动平移台之上在焦点附近以固定步长移动，与样品非线性相互作用后的出射光场由透镜聚焦耦合至积分球再传输至光谱仪，探测自相位调制引起的光谱展宽，根据光谱展宽的大小及所建立的关系曲线确定介质的非线性折射率系数，本发明具有装置简单、高灵敏度、高信噪比等优点，可用于强散射介质的非线性折射率系数测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供