一种硬件测试架

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专利名称	一种硬件测试架
申请号	CN201811454918.8	申请日期	2018-11-30
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2019-04-05	公开/公告号	CN109580996A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	英业达科技有限公司;英业达股份有限公司	申请人地址	上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	英业达科技有限公司,英业达股份有限公司	当前权利人	英业达科技有限公司,英业达股份有限公司
发明人	孙振
代理机构	上海光华专利事务所（普通合伙）	代理人	徐秋平

摘要

本发明提供一种硬件测试架，包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。本发明的硬件测试架无需焊接即可进行一个或多个测试点的测试，极大地提高了硬件测试的效率，减少了对硬件的损伤。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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