测量完整性的设备和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200710078884.2
IPC分类号：G06F17/30;G06F12/02;H04L9/28
申请日期：
2007-02-16
申请人：
三星电子株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测量完整性的设备和方法
申请号	CN200710078884.2	申请日期	2007-02-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2007-08-29	公开/公告号	CN101025762
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/30 信息检索；及其数据库结构〔6〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;3;0;;;G;0;6;F;1;2;/;0;2;;;H;0;4;L;9;/;2;8查看分类表>
申请人	三星电子株式会社	申请人地址	韩国京畿道水原市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	崔贤真;郑勍任;郑明俊
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	韩明星;安宇宏

摘要

本发明提供了一种测量完整性的设备和方法，其中，避免了将测量完整性的对象不必要地加载到存储器。该设备包括：映射模块，将多个第二对象中的至少一个第二对象加载到存储器中，所述多个第二对象根据存储器的分配单位从第一对象分割；存储器模块，存储所分割的第二对象的哈希值；测量模块，通过将所加载的第二对象的哈希值与存储在存储器模块中的哈希值作比较来测量第一对象的完整性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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