阵列基板及其检测方法和检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310046771.X
IPC分类号：G02F1/13;G02F1/1335;G02F1/1362;G02B5/20
申请日期：
2013-02-05
申请人：
北京京东方光电科技有限公司

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著录项信息

专利名称	阵列基板及其检测方法和检测装置
申请号	CN201310046771.X	申请日期	2013-02-05
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-08-06	公开/公告号	CN103969853A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02F1/13 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02F 用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器〔2，4〕 G02F1/00 控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学〔2，4〕 G02F1/01 对强度、相位、偏振或颜色的控制（G02F 1/29、G02F 1/35优先）〔2，7〕 G02F1/13 基于液晶的，例如单位液晶显示单元〔2〕	IPC分类号	G;0;2;F;1;/;1;3;;;G;0;2;F;1;/;1;3;3;5;;;G;0;2;F;1;/;1;3;6;2;;;G;0;2;B;5;/;2;0查看分类表>
申请人	北京京东方光电科技有限公司	申请人地址	北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京京东方光电科技有限公司	当前权利人	北京京东方光电科技有限公司
发明人	冀新友;郭建
代理机构	北京派特恩知识产权代理有限公司	代理人	张颖玲;程立民

摘要

本发明提供一种阵列基板，包括设置在基板上的待检测结构，所述待检测结构的下方设置有用于检测待检测结构是否断开的附加层，所述附加层的颜色与待检测结构的颜色不同并且图案形状一致。本发明还提供了一种用于上述阵列基板的检测方法和检测装置。通过本发明的阵列基板及其检测方法和检测装置，可以实现对阵列基板生产过程中出现的断开型不良的早期检测，从而可以尽早实现不良原因的发现和消除，提高生产效率和产品良率。

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