一种防底座变形的位移测量仪

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202021732914.4
IPC分类号：G01B21/02
申请日期：
2020-08-19
申请人：
武汉大学

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著录项信息

专利名称	一种防底座变形的位移测量仪
申请号	CN202021732914.4	申请日期	2020-08-19
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人	武汉大学	申请人地址	湖北省武汉市武昌区八一路299号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉大学	当前权利人	武汉大学
发明人	谢维强;张晓平;李伟伟;刘泉声;张磊
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	刘琰

摘要

本实用新型公开了一种防底座变形的位移测量仪，包括：位移传感器、可伸缩弹簧杆、测量显示模块和外壳；其中：外壳顶部设有顶板，底部设有底板；可伸缩弹簧杆设置有多个，其顶端固定在顶板上，底端支撑于底板上；位移测量仪内设置有多个位移传感器，每根位移传感器上均设置有位移传感器固定架，位移传感器固定架一端套装在位移传感器上，另一端与外壳的内壁固定连接；测量显示模块固定设置在外壳上；位移传感器一端设有位移探针，另一端设有数据线；顶板中间开孔，位移探针的尖端穿过顶板的开孔与被测物体表面接触，数据线在壳体内与测量显示模块连接。本实用新型简单轻便，使用方便；可防止测试过程中底座变形带来的影响，且测试误差较小。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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