闪存介质的快速筛选方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200810084054.5
IPC分类号：G11C29/12;G11C16/06
申请日期：
2008-03-21
申请人：
深圳市朗科科技股份有限公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	闪存介质的快速筛选方法和系统
申请号	CN200810084054.5	申请日期	2008-03-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-09-23	公开/公告号	CN101540202
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;1;2;;;G;1;1;C;1;6;/;0;6查看分类表>
申请人	深圳市朗科科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新区中国科技开发院孵化大楼6楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市朗科科技股份有限公司	当前权利人	深圳市朗科科技股份有限公司
发明人	卢赛文
代理机构	北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司	代理人	胡海国;王艳春

摘要

本发明提供了一种闪存介质的快速筛选方法和系统，用于筛选合格的闪存介质，包括如下步骤：设定用来界定闪存介质是否为不良品的预设比例；擦除闪存介质所有块中的数据；检测闪存介质中的坏块；根据检测结果筛选合格的闪存介质。本发明根据闪存介质的特性，依据擦除后读取的数据来判断闪存介质的好坏，不涉及写的操作，其中的快速读操作不超过2秒钟，加上擦除，总共也不到10秒钟，大量的节省了检测时间，提高了检测效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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