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可抑制光学元件中频误差的超声振动抛光磨头装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510636296.0
  • IPC分类号:B24B1/04;B24B55/02;B24B41/00
  • 申请日期:
    2015-09-30
  • 申请人:
    厦门理工学院
著录项信息
专利名称可抑制光学元件中频误差的超声振动抛光磨头装置
申请号CN201510636296.0申请日期2015-09-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-12-23公开/公告号CN105171537A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B24B1/04IPC分类号B;2;4;B;1;/;0;4;;;B;2;4;B;5;5;/;0;2;;;B;2;4;B;4;1;/;0;0查看分类表>
申请人厦门理工学院申请人地址
福建省厦门市集美区理工路600号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人厦门理工学院当前权利人厦门理工学院
发明人林晓辉;汤辉煌;杜欣宇;刘建春
代理机构泉州市潭思专利代理事务所(普通合伙)代理人麻艳
摘要
本发明公开了一种可抑制光学元件中频误差的超声振动抛光磨头装置,包括抛光工具体、磨盘、柔性铰链磨头以及可带动抛光工具体进行超声振动的超声波振动装置;该磨盘可旋转地安装在该抛光工具体上,其上设有若干孔,所述的柔性铰链磨头通过柔性铰链安装在该孔内。与传统的小磨头抛光容易引入波纹状的条纹并产生中频误差相比,本发明的超声振动磨头通过配合超声振动以及柔性铰链磨头的运动,使得整体磨盘运动杂错无章,从而可有效去除中频误差。

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