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专利名称 | 一种微功耗磁信号检测装置的应用方法 |
申请号 | CN201510352374.4 | 申请日期 | 2015-06-24 |
法律状态 | 授权 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2015-09-09 | 公开/公告号 | CN104900069A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G08G1/042 | IPC分类号 | G;0;8;G;1;/;0;4;2查看分类表>
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申请人 | 西安华舜测量设备有限责任公司 | 申请人地址 | 陕西省西安市高新区丈八一路绿地SOHO同盟A座703室
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权利人 | 西安华舜测量设备有限责任公司 | 当前权利人 | 西安华舜测量设备有限责任公司 |
发明人 | 李斌;马莉锋 |
代理机构 | 西安西达专利代理有限责任公司 | 代理人 | 李文义 |
摘要
一种微功耗磁信号检测装置,包括磁传感器装置、电源,其电源分别与MCU微控制单元、Ad芯片、低功耗磁传感器相连接,低功耗磁传感器、Ad芯片、MCU微控制单元、依次连接,MCU微控制单元、RS232设备、上位机依次连接,MCU微控制单元连接sd存储卡,磁传感器装置于将磁信号转换为电信号,并传输给信号检测装置,信号检测装置把所述电信号转换为数字信号,保存数字信号,检测所述数字信号,经过软件算法,输出检测结果,提高了检测精度,体积小,安装简单,降低了施工难度,降低了成本。
1.一种微功耗磁信号检测装置的应用方法,包括电源(2)分别与MCU微控制单元(1)、Ad芯片(4)、低功耗磁传感器(3)相连接,低功耗磁传感器(3)、Ad芯片(4)、MCU微控制单元(1)依次连接,MCU微控制单元(1)、RS232设备(5)、上位机(7)依次连接,MCU微控制单元(1)连接sd存储卡(6);所述低功耗磁传感器(3)用于将磁信号转换为电信号,并传输给Ad芯片(4);
所述Ad芯片(4)用于把所述电信号转换为数字信号,其特征在于,所述的微功耗磁信号检测装置的应用方法包括以下步骤:
1)上电后,系统初始化、定时器初始化并定时;
2)在40s内,MCU微控制单元是否接收到上位机发送的读、写、擦三种状态命令中一种状态命令,若是,则根据命令,把sd存储卡 的状态更改为相应的读、写、擦三种状态中的一种状态;
3)在40s内,MCU微控制单元是否接收到上位机发送的读sd存储卡状态的命令,若是,则MCU微控制单元把sd存储卡的目前所处的状态发送给上位机;
4)在40s内,MCU微控制单元是否接收到上位机发送的读数据命令,若是执行步骤5;
5)sd存储卡 的状态是否为读状态,若是,则把sd存储卡中的数据,通过 RS232设备上传给上位机;
6)在40s内,MCU微控制单元1是否接收到上位机发送的擦除数据命令,若是执行步骤7;
7)sd存储卡的状态是否为擦状态,若是,则把sd存储卡中的数据擦除掉;
8)上电40s后,sd存储卡的状态是否为写状态,若是,则把磁信号转换为电信号,把电信号转换为数字信号和保存数字信号;把数字信号经过软件算法处理,和相应的阈值做比较,然后输出比较结果,即检测结果。
2.根据权利要求1所述的一种微功耗磁信号检测装置的应用方法,其特征在于,所述Ad芯片(4)采用ads1220采集芯片,可以通过USART和上位机软件通讯。
3.根据权利要求1所述的一种微功耗磁信号检测装置的应用方法,其特征在于,所述的MCU微控制单元(1)采用stm32f051r8t6控制器。
4.根据权利要求1所述的一种微功耗磁信号检测装置的应用方法,其特征在于,所述的sd存储卡(6)采用2gSD。
一种微功耗磁信号检测装置的应用方法\n技术领域\n[0001] 本发明属于磁场检测技术领域,具体涉及一种微功耗磁信号检测装置及其应用方法。\n背景技术\n[0002] 随着车辆的增多和交通的飞速发展,在道路交通管理与控制中对交通信息的需求越来越多,通过环形车辆检测器来实现交通信息的采集,环形车辆检测器是通过线圈检测实现的,在同一车道的道路路基段埋设一组(2个)感应线圈,每组感应线圈与多通道车辆检测器相连。当车辆分别经过两个线圈时,由于线圈电感量的变化,车辆的通过状态将被检测到,同时状态信号传输给车辆检测器,由其进行采集和计算。但是因为需要在每条车道下埋设线圈,所以对公路的路面有破坏作用,影响路面寿命;长期使用后,线圈易被重型车辆、路面修理等损坏 ,更换线圈时工作量较大,而且施工时需封闭车道,影响交通;馈线长度的增加,会造成馈线部分电感比例增大,相对于线圈电感量的变化比值就比较小,对检测精度有影响。\n发明内容\n[0003] 为了克服上述现有技术的不足,本发明的目的是提供一种微功耗磁信号检测装置及其应用方法,通过磁传感器装置和信号检测装置硬件和软件的应用,实现了磁信号精准检测,具有可靠度高,安装方便,工作时间久的特点。\n[0004] 为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是:\n[0005] 一种微功耗磁信号检测装置,包括磁传感器装置、电源,其电源分别与MCU微控制单元、Ad芯片、低功耗磁传感器相连接,低功耗磁传感器、Ad芯片、MCU微控制单元依次连接,MCU微控制单元、RS232设备、上位机依次连接,MCU微控制单元连接sd存储卡;\n[0006] 所述磁传感器装置用于将磁信号转换为电信号,并传输给Ad芯片4;\n[0007] 所述Ad芯片用于把所述电信号转换为数字信号。\n[0008] 所述Ad芯片采用ads1220采集芯片。\n[0009] 所述的MCU微控制单元采用stm32f051r8t6控制器。\n[0010] 所述的sd存储卡采用闪迪2gSD。\n[0011] 一种微功耗磁信号检测装置的应用方法,包括以下步骤:\n[0012] 1)上电后,系统初始化、定时器初始化并定时;\n[0013] 2)在40s内,MCU微控制单元是否接收到上位机发送的读、写、擦三种状态命令中一种状态命令,若是,则根据命令,把sd存储卡的状态更改为相应的读、写、擦三种状态中的一种状态;\n[0014] 3)在40s内,MCU微控制单元是否接收到上位机发送的读sd存储卡状态的命令,若是,则MCU微控制单元把sd存储卡的目前所处的状态发送给上位机;\n[0015] 4)在40s内,MCU微控制单元是否接收到上位机发送的读数据命令,若是执行步骤\n5;\n[0016] 5)sd存储卡的状态是否为读状态,若是,则把sd存储卡中的数据,通过 RS232设备上传给上位机;\n[0017] 6)在40s内,MCU微控制单元是否接收到上位机发送的擦除数据命令,若是执行步骤7;\n[0018] 7)sd存储卡的状态是否为擦状态,若是,则把sd存储卡中的数据擦除掉;\n[0019] 8)上电40s后,sd存储卡的状态是否为写状态,若是,则把磁信号转换为电信号,把电信号转换为数字信号和保存数字信号;把数字信号经过软件算法处理,和相应的阈值做比较,然后输出比较结果,即检测结果。\n[0020] 本发明的有益效果是:\n[0021] 本发明利用高精度的磁传感器装置,缩短了磁传感器装置和信号检测装置连接线路,提高了检测精度;使用时,不用埋在道路下,可以被支起在道路上空,所以不破坏地面,体积小,和现有的磁信号检测设备比较,安装简单,降低施工难度,降低成本。\n附图说明\n[0022] 图1为本发明的结构示意图。\n[0023] 图2为本发明的应用流程图。\n[0024] 其中,1为MCU微控制单元;2为电源;3为磁传感器装置;4为Ad芯片;5为RS232设备;\n6为sd存储卡;7为上位机。\n具体实施方式\n[0025] 下面结合附图和具体实施例对本发明进一步叙述。\n[0026] 如图1所示,一种微功耗磁信号检测装置,包括磁传感器装置3、电源2,其特征在于,电源2分别与MCU微控制单元1、Ad芯片4、低功耗磁传感器3相连接,低功耗磁传感器3、Ad芯片4、MCU微控制单元1依次连接,MCU微控制单元1、RS232设备5、上位机7依次连接,MCU微控制单元1连接sd存储卡6;\n[0027] 所述磁传感器装置用于将磁信号转换为电信号,并传输给Ad芯片4;\n[0028] 所述Ad芯片4用于把所述电信号转换为数字信号。\n[0029] 所述Ad芯片4采用ads1220采集芯片。\n[0030] 所述的MCU微控制单元1采用stm32f051r8t6控制器。\n[0031] 所述的sd存储卡6采用闪迪2gSD。\n[0032] 所述的在微功耗磁信号检测装置上电后,40s内,若微功耗磁信号检测装置接收到上位机设备7所发的设置sd存储卡6为数据读取命令、擦除数据命令、设置参数命令。\n[0033] 若在上电40s内MCU微控制单元1没有收到上位机设备7任何命令,40s后则MCU微控制单元1根据sd存储卡6目前处于的状态来判断是否把电信号转换为数字信号和保存数字信号,如果sd存储卡6处于写状态,则MCU微控制单元1把电信号转换为数字信号和保存数字信号,并且检测数字信号,经过软件算法,输出检测结果。微功耗磁信号检测装置若在每次上电40s后,都检测到sd存储卡6处于写状态,微功耗磁信号检测装置就可以把电信号转换为数字信号和保存数字信号,并且上次上电保存的数字信号的数据和下次保存的数据在sd存储卡6中可以区别出来。\n[0034] MCU微控制单元1把电信号转换为数字信号和保存数字信号,通过磁传感器装置3将待测的磁信号转换为电信号,然后将电信号传输给Ad芯片4进行采集将电信号转换为数字信号,Ad芯片4把数字信号传输给MCU微控制单元1;MCU微控制单元1把数字信号保存在sd存储卡6中。\n[0035] 检测数字信号和输出检测结果,通过MCU微控制单元1把数字信号经过软件算法处理,和相应的阈值做比较,然后输出比较结果,即检测结果。\n[0036] 微功耗磁信号检测装置可以通过USART和上位机通讯,利用上位机读取sd卡中数据,擦除数据,设置sd卡的读、写、擦状态,读取sd卡状态,设置参数。\n[0037] 一种微功耗磁信号检测装置的应用方法,包括以下步骤:\n[0038] 步骤1:上电后,系统初始化、定时器初始化并定时;\n[0039] 步骤2:在40s内, MCU微控制单元1是否接收到上位机7发送的读、写、擦三种状态命令中一种状态命令,若是,则根据命令,把sd存储卡 6的状态更改为相应的读、写、擦三种状态中的一种状态;\n[0040] 步骤3:在40s内, MCU微控制单元1是否接收到上位机7发送的读sd存储卡 6状态的命令,若是,则MCU微控制单元1把sd存储卡 6的目前所处的状态发送给上位机;\n[0041] 步骤4:在40s内, MCU微控制单元1是否接收到上位机7发送的读数据命令,若是执行步骤5;\n[0042] 步骤5:sd存储卡 6的状态是否为读状态,若是,则把sd存储卡 6中的数据,通过 RS232设备5上传给上位机7;\n[0043] 步骤6:在40s内, MCU微控制单元1是否接收到上位机7发送的擦除数据命令,若是执行步骤7;\n[0044] 步骤7:sd存储卡 6的状态是否为擦状态,若是,则把sd存储卡 6中的数据擦除掉;\n[0045] 步骤8:上电40s后,sd存储卡 6的状态是否为写状态,若是,则把磁信号转换为电信号,把电信号转换为数字信号和保存数字信号;把数字信号经过软件算法处理,和相应的阈值做比较,然后输出比较结果,即检测结果。
法律信息
- 2018-01-19
- 2015-10-07
实质审查的生效
IPC(主分类): G08G 1/042
专利申请号: 201510352374.4
申请日: 2015.06.24
- 2015-09-09
引用专利(该专利引用了哪些专利)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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2010-12-08
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2010-08-09
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被引用专利(该专利被哪些专利引用)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有被任何外部专利所引用! |