一种基于变压器宽频模型的频率响应测试方法及应用

发明专利有效专利

申请号：
CN202011385705.1
IPC分类号：G01R31/62;G01R31/72;G01R31/12;G01R31/00;G01R23/02
申请日期：
2020-12-01
申请人：
清华大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于变压器宽频模型的频率响应测试方法及应用
申请号	CN202011385705.1	申请日期	2020-12-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-02	公开/公告号	CN112595998A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/62	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;6;2;;;G;0;1;R;3;1;/;7;2;;;G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	北京市海淀区清华园变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学	当前权利人	清华大学
发明人	张品佳;陆格野;郑大勇
代理机构	北京中创云知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	徐辉

摘要

本发明涉及一种基于变压器宽频模型的频率响应测试方法及应用，根据待测变压器绕组结构确定两侧绕组的层数，形成待测变压器共模宽频电路模型，每层包括绕组电感和绕组电阻形成的串联结构，串联结构两端经接地电容接地并并联匝间电容，层间通过层间电容连接，各个电容并联电阻，不同层之间存在绕组互感；确定模型中各元器件的特性参数；基于变压器宽频模型计算频率响应曲线。该模型能够更为准确地表征电参数宽频段内频变特性，提升描述绝缘老化或绕组形变造成的高频段谐振点变化的准确性，更准确地探究宽频响应测试曲线的变化规律。能够更好地服务于基于FRA方法的电力变压器状态监测与评估，能够服务于老化状态检测，准确评估老化前后的状态差别。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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