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调制传递函数的测量仪及测量方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610119331.2
  • IPC分类号:G01M11/00G01M11/02
  • 申请日期:
    2006-12-08
  • 申请人:
    中国科学院上海光学精密机械研究所
著录项信息
专利名称调制传递函数的测量仪及测量方法
申请号CN200610119331.2申请日期2006-12-08
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2007-05-16公开/公告号CN1963430
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/00IPC分类号G01M11/00;G01M11/02查看分类表>
申请人中国科学院上海光学精密机械研究所申请人地址
上海市800-211邮*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所当前权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人赵罡;朱健强
代理机构上海新天专利代理有限公司代理人张泽纯
摘要
一种用于光学系统调制传递函数的调制传递函数的测量仪及测量方法,本测量仪由计算机及其液晶显示屏,支架,二维彩色CCD和基座组成。测量原理是利用计算机产生的随机噪声图作为检测输入,通过分析成像前后图像的功率谱密度,本发明只需一次测量就可快速检测得到光学系统的MTF曲线。该仪器通过计算机程序改变检测输入图像,不仅具有快速检测的特点,也可以方便分析影响调制传递函数的各种因素。

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