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测量装置以及校准方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200710126944.3
  • IPC分类号:B25J13/00;B25J19/00;B25J9/16
  • 申请日期:
    2007-07-02
  • 申请人:
    发那科株式会社
著录项信息
专利名称测量装置以及校准方法
申请号CN200710126944.3申请日期2007-07-02
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2008-01-09公开/公告号CN101100061
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B25J13/00IPC分类号B;2;5;J;1;3;/;0;0;;;B;2;5;J;1;9;/;0;0;;;B;2;5;J;9;/;1;6查看分类表>
申请人发那科株式会社申请人地址
日本山梨县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人发那科株式会社当前权利人发那科株式会社
发明人伴一训;泷泽克俊;沈岗
代理机构北京银龙知识产权代理有限公司代理人许静
摘要
本发明提供一种可使用比较小型且价格便宜的测定装置来高精度且自动求出机构参数的误差、并修正机构参数的测量装置以及校准方法。对于多个测量位置,自动地执行以下的处理:移动机器人,以使在照相机的受光面上,表示目标的标记图像的椭圆与表示标记形状的圆的中心位置的差、以及长轴长与直径的差在规定的误差以内。

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