偏振移相双剪切干涉波面测量仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200720075604.8
IPC分类号：--
申请日期：
2007-10-19
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	偏振移相双剪切干涉波面测量仪
申请号	CN200720075604.8	申请日期	2007-10-19
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市800－211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	王利娟;刘立人;栾竹;孙建锋;周煜
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种偏振移相双剪切干涉波面测量仪，该测量仪的构成是沿光束的前进方向依次包括：第一雅敏平行平板、左下楔形光学平板、左上楔形光学平板、右下楔形光学平板、右上楔形光学平板、第二雅敏平行平板、偏振移相器、成像镜组和图像传感器，该图像传感器的输出端接计算机。本实用新型不仅保持了双剪切干涉波面测量仪的所有特点，而且具有灵敏度高、能精确测量任意对称波面并给出完整波面轮廓等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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