空间辐射环境与效应组合探测结构

发明专利有效专利

申请号：
CN201610104119.2
IPC分类号：G01T1/00;G01T3/02
申请日期：
2016-02-25
申请人：
北京卫星环境工程研究所

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著录项信息

专利名称	空间辐射环境与效应组合探测结构
申请号	CN201610104119.2	申请日期	2016-02-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-07-06	公开/公告号	CN105738936A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;0;0;;;G;0;1;T;3;/;0;2查看分类表>
申请人	北京卫星环境工程研究所	申请人地址	北京市海淀区友谊路104号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京卫星环境工程研究所	当前权利人	北京卫星环境工程研究所
发明人	沈自才;刘业楠;刘宇明;夏彦;王志浩;白羽;马子良;丁义刚
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种空间辐射环境与效应组合的探测结构，包括由主要用于去除中子和伽马射线干扰的内层屏蔽层和主要用于去除电子、质子、重离子干扰的外层屏蔽层即金属屏蔽层组成的探测壳体，壳体内设置金属薄层一以用于阻挡空间太阳光的影响，金属薄层下方依次间隔设置三层半导体探测层，用于对电子、质子、重离子、中子、伽马射线的探测；半导体探测层下方再依次间隔设置两层金属薄层，以用于对穿过半导体探测器的电子、质子、重离子等带电粒子产生的充电电位进行判读和并对其实现屏蔽；接着两层金属薄层下方再依次间隔设置两层半导体探测层以及夹在两层半导体探测层之间的用于中子产生反冲质子的聚合物薄层，两层半导体探测层分别用于对中子和伽马射线的探测。

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