基于焦平面成像法的发射模块间同轴度测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200710144879.7
IPC分类号：G01B11/26
申请日期：
2007-12-20
申请人：
哈尔滨工业大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于焦平面成像法的发射模块间同轴度测量方法
申请号	CN200710144879.7	申请日期	2007-12-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2008-07-02	公开/公告号	CN101210805
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/26 用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	谭立英;马晶;韩琦琦;刘剑峰;于思源;杨玉强;俞建杰
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	徐爱萍

摘要

基于焦平面成像法的发射模块间同轴度测量方法，本发明涉及测量领域，它解决了不同波段的光束，不能使用同一探测器对出射光束进行探测，更换时要求可对模块间出射的同轴度进行精确测量的问题。步骤如下：首先对800nm波段激光发射模块输出光成像光斑坐标为(x1，y1)；其次安装小孔光阑并记录小孔中心位置坐标为(x2，y2)；之后1550nm波段CCD探测器定位，并记录小孔中心位置坐标为(x3，y3)；接下来对1550nm波段激光发射模块输出光成像进行坐标记录为(x4，y4)；最终得出方向角度偏差和俯仰角度偏差分别为α＝[(x1-x2)-(x4-x3)]/F，β＝[(y1-y2)-(y4-y3)]/F。利用长焦平行光管、不同波段带显微镜头的CCD探测器等器件，基于焦平面成像法可将测量精度提高到0.5μrad以上。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供