激光光线的光点形状检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510494227.0
IPC分类号：B23K26/073;B23K26/70;B23K26/364;B23K26/402
申请日期：
2015-08-12
申请人：
株式会社迪思科

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著录项信息

专利名称	激光光线的光点形状检测方法
申请号	CN201510494227.0	申请日期	2015-08-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-03-02	公开/公告号	CN105364302A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B23K26/073 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B2 成型 B23 机床；其他类目中不包括的金属加工 B23K 钎焊或脱焊；焊接；用钎焊或焊接方法包覆或镀敷；局部加热切割，如火焰切割；用激光束加工（用金属的挤压来制造金属包覆产品入B21C 23/22；用铸造方法制造衬套或包覆层入B22D 19/08；用浸入方式的铸造入B22D 23/04；用烧结金属粉末制造复合层入B22F 7/00；机床上的仿形加工或控制装置入B23Q；不包含在其他类目中的包覆金属或金属包覆材料入C23C；燃烧器入F23D） B23K26/00 用激光束加工，例如焊接，切割或打孔〔2，3，2014.01〕 B23K26/02 工件的定位和观测，如相对于冲击点，激光束的对正，瞄准或聚焦〔3，2014.01〕 B23K26/06 激光束的成形，例如，利用掩膜或多次聚焦〔3，2014.01〕 B23K26/073 激光点的整形〔7〕	IPC分类号	B;2;3;K;2;6;/;0;7;3;;;B;2;3;K;2;6;/;7;0;;;B;2;3;K;2;6;/;3;6;4;;;B;2;3;K;2;6;/;4;0;2查看分类表>
申请人	株式会社迪思科	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社迪思科	当前权利人	株式会社迪思科
发明人	浅野健司;能丸圭司;约耳·科维尔;桐原直俊;畑雄大;伊藤优作
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	李辉;金玲

摘要

激光光线的光点形状检测方法。包括：凹面镜保持工序，在被加工物保持单元上保持反射面为球面的凹面镜；分支单元定位工序，将分支单元定位于作用位置处，该分支单元使激光光线从激光光线振荡单元向聚光器通过，并且将由聚光器会聚且被保持于被加工物保持单元的凹面镜的反射面反射的反射光引导至反射光检测路径；焦点定位工序，将聚光器的焦点定位于包括形成保持于被加工物保持单元的凹面镜的反射面的球面中心的附近处；激光光线照射工序，使激光光线振荡单元进行工作，将由聚光器会聚的激光光线照射到保持于被加工物保持单元的凹面镜上；以及摄像工序，通过摄像单元对被凹面镜的反射面反射且由分支单元引导至检测路径的反射光进行摄像而取得图像。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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