具有光学导管光递送的光学分析系统

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专利名称	具有光学导管光递送的光学分析系统
申请号	CN201580080095.5	申请日期	2015-05-19
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-02-06	公开/公告号	CN107667276A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;0;2;;;G;0;2;B;2;7;/;1;4查看分类表>
申请人	新港公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	新港公司	当前权利人	新港公司
发明人	杰米·克纳普
代理机构	北京律盟知识产权代理有限责任公司	代理人	沈锦华

摘要

本发明涉及光学分析系统及方法，所述光学分析系统及方法可包含具有光电检测器阵列及多个光学通道的多路分用组合件，所述多个光学通道经配置以防止其间的串扰。一些光学分析系统实施例可包含多路复用器，所述多路复用器操作地耦合到多路分用组合件、可用于将单个光学信号分裂成多个光学信号或用于任何其它适合目的。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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