一种在Android中植入动态污点分析模块的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310112042.X
IPC分类号：G06F21/50
申请日期：
2013-04-02
申请人：
中国人民大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种在Android中植入动态污点分析模块的方法
申请号	CN201310112042.X	申请日期	2013-04-02
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-06-26	公开/公告号	CN103177210A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F21/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F21/24 （转入G06F 21/60） G06F21/50 监控用户、程序或设备，以维护平台完整。例如处理器、固件或操作系统〔2013.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;2;1;/;5;0查看分类表>
申请人	中国人民大学	申请人地址	北京市海淀区中关村大街59号中国人民大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民大学	当前权利人	中国人民大学
发明人	梁彬;游伟;王鹏;石文昌
代理机构	北京纪凯知识产权代理有限公司	代理人	徐宁;关畅

摘要

本发明涉及一种在Android中植入动态污点分析模块的方法，该方法对Android系统的系统类库和应用程序进行静态插桩，在插桩后的应用程序装载过程中，通过重定向虚拟机启动函数的方法重构执行环境，使插桩后的应用程序能够引用插桩后的系统类库，在插桩后的应用程序运行过程中，动态污点分析模块同步运行，实施动态污点跟踪分析。本发明无需修改Android系统源代码和系统架构、无需刷机及ROOT目标终端设备，便可以在Android系统平台上植入具有污点跟踪功能的动态污点分析模块，对敏感信息操作进行监控分析。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供