一种基于自适应双截断重要抽样的高效失效概率计算方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010226503.6
IPC分类号：G06F30/20;G06F111/08;G06F119/02;G06F119/14
申请日期：
2020-03-27
申请人：
北京航空航天大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于自适应双截断重要抽样的高效失效概率计算方法
申请号	CN202010226503.6	申请日期	2020-03-27
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-11	公开/公告号	CN111523203A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/20	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;2;0;;;G;0;6;F;1;1;1;/;0;8;;;G;0;6;F;1;1;9;/;0;2;;;G;0;6;F;1;1;9;/;1;4查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	张建国;吴洁;游令非;叶楠
代理机构	北京慧泉知识产权代理有限公司	代理人	王顺荣;唐爱华

摘要

本发明提供一种基于自适应双截断重要抽样的高效失效概率计算方法，步骤如下：一：确定结构主要随机变量X＝(X1,X2,...,Xn)的分布类型及参数，并将原随机变量转化为标准正态空间内的随机变量Y＝(Y1,Y2,...,Yn)，相应的极限状态函数转化为g(Y)(若极限状态函数为隐式则无需转化)；二：迭代次数l＝1，确定验算点y*(1)和β球(以原点为球心并以可靠度指标β为半径的超球面)半径β(1)；三：利用筛选法生成服从截断重要分布的样本点四：计算失效概率估计值五：计算方差和变异系数六：更新验算点和β球半径；七：判断(ε为预先给定的精度要求)是否满足；如果精度不足，l＝l+1，转步骤三，直到满足精度要求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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