真空灭弧室金属化检测方法及其设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201210365724.7
IPC分类号：G01N3/08
申请日期：
2012-09-27
申请人：
中国振华电子集团宇光电工有限公司（国营第七七一厂）

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著录项信息

专利名称	真空灭弧室金属化检测方法及其设备
申请号	CN201210365724.7	申请日期	2012-09-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-26	公开/公告号	CN102841015A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/08 施加稳定的张力或压力（G01N 3/28优先）	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人	中国振华电子集团宇光电工有限公司（国营第七七一厂）	申请人地址	贵州省贵阳市新添大道北段272号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国振华电子集团宇光电工有限公司（国营第七七一厂）	当前权利人	中国振华电子集团宇光电工有限公司（国营第七七一厂）
发明人	杨云
代理机构	北京联创佳为专利事务所（普通合伙）	代理人	王娟;郭防

摘要

本发明公开了一种真空灭弧室金属化检测方法及其设备，其特征在于：在真空灭弧室陶瓷壳金属化完成后，利用专用抗拉夹具将拉杆焊接在瓷壳金属化部分，然后使用拉力测试机对瓷壳金属化程度进行拉断检测。本发明简化了陶瓷在进行金属化程度测试时破坏陶瓷外壳的步奏，避免了破坏瓷壳时所产生的噪音污染和瓷壳崩裂时所产生的危险，采用新的检测步奏使得检测更加准确，数据搜集和处理简便有效，在节约了生产人力资源的同时也提高了试验人员的工作效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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