反应性近场天线测量

发明专利无效专利

申请号：
CN201580061062.6
IPC分类号：G01R35/00;G01R29/08
申请日期：
2015-11-10
申请人：
EMSCAN公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	反应性近场天线测量
申请号	CN201580061062.6	申请日期	2015-11-10
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2017-08-29	公开/公告号	CN107110948A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0;;;G;0;1;R;2;9;/;0;8查看分类表>
申请人	EMSCAN公司	申请人地址	加拿大艾伯塔变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	EMSCAN公司	当前权利人	EMSCAN公司
发明人	鲁斯卡·巴顿;卡斯拉·帕扬德赫朱
代理机构	北京挚诚信奉知识产权代理有限公司	代理人	邢悦;王永辉

摘要

一种校准或校正来自集成测量探针的扫描器板阵列的近场或远场数据的方法，该测量探针被电子切换以从被测天线(AUT)捕获近场数据并具有板输出，包括以下步骤：将校准探针与其中一个测量探针耦接，测量通过测量探针和校准探针的功率，并通过消除校准探针的影响来隔离从测量探针到板输出的射频路径的影响，并且对于每个测量探针进行重复。还公开了一种用于校正对于AUT的散射效应和负载效应的方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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