电容层析成像电容测量系统

发明专利无效专利

申请号：
CN01112515.2
IPC分类号：--
申请日期：
2001-03-29
申请人：
浙江大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	电容层析成像电容测量系统
申请号	CN01112515.2	申请日期	2001-03-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2002-11-06	公开/公告号	CN1378080
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	浙江大学	申请人地址	浙江省杭州市玉古路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江大学	当前权利人	浙江大学
发明人	王保良;黄志尧;李海青
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	张法高

摘要

本发明公开了一种电容层析成像电容测量系统。它由电容传感器、电容数据采集系统组成。电容传感器径向电极上固定有电容/电压转换器，电路为：译码器的输出连接控制激励信号和电容/电压转换电路，电容/电压转换电路的输出经译码器控制的电子开关送出。本发明减小了引线与地间形成的电容。提高测量精度。外部引线的抗干扰能力增强。使得系统的可靠性增强；电容测量速度高，输出信号中无原理性噪声。

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发明授权

电容层析成像电容测量系统

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