光斩波器在延迟发光测量系统中的使用方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610409306.1
IPC分类号：G01N21/64
申请日期：
2016-06-12
申请人：
朱泽策

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著录项信息

专利名称	光斩波器在延迟发光测量系统中的使用方法
申请号	CN201610409306.1	申请日期	2016-06-12
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-11-02	公开/公告号	CN106066317A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	朱泽策	申请人地址	湖北省武汉市武昌区八一路武汉大学化学院化西楼503室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	朱泽策	当前权利人	朱泽策
发明人	朱泽策
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种将斩光器应用于光致发光测量的方法，可以用于延迟发光的测量，测量中有两条光路：光路一是激发光照射样品的光路；光路二是探测器探测样品发光的光路；该方法利用反光镜或者棱镜将其中一条或者两条光路反射或折射，使两条光路都通过同一个斩光器。这样就实现了同一个斩光器在测量中同时对激发光和被测样品的发光进行斩光，因而可以探测样品的延迟发光和激发态寿命。该方法可以用于光谱仪和荧光成像装置，并可以搭配任意的稳态光源使用，且无需再配备脉冲发生器、延迟发生器和快门附件等，简化了仪器装置并降低了成本。该方法也可以搭配大功率的近红外激光器，用于上转化材料或近红外发射材料的时间分辨的成像。

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