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一种消除表面静电的流体压紧封装装置及封装方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110241760.8
  • IPC分类号:H01L51/52
  • 申请日期:
    2011-08-22
  • 申请人:
    上海微电子装备有限公司
著录项信息
专利名称一种消除表面静电的流体压紧封装装置及封装方法
申请号CN201110241760.8申请日期2011-08-22
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2013-03-06公开/公告号CN102956832A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L51/52IPC分类号H;0;1;L;5;1;/;5;2查看分类表>
申请人上海微电子装备有限公司申请人地址
上海市浦东区张江高科技园区张东路1525号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海微电子装备(集团)股份有限公司当前权利人上海微电子装备(集团)股份有限公司
发明人韦学志;陈勇辉
代理机构北京连和连知识产权代理有限公司代理人王光辉
摘要
本发明提供一种消除表面静电的流体压紧封装装置,包括:封装结构,所述封装结构具有第一基板,第二基板,及设置在所述第一基板和所述第二基板之间用于形成至少一腔室的熔料;辐射源,用于加热所述熔料,使所述熔料与所述第一基板和所述第二基板的连接面处结合,使所述腔室形成气密封装结构;流体源,所述流体源提供流体束,所述流体束作用于所述第一基板,用于压紧所述第一基板与所述第二基板之间的所述熔料;其特征在于,所述流体源内还包括离子发生装置,用于激发所述流体束以产生正负离子。

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