显微镜下全景深大幅图片的拼接方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510018921.1
IPC分类号：G02B21/00;G06T1/00;G06F17/00
申请日期：
2005-06-16
申请人：
武汉理工大学

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著录项信息

专利名称	显微镜下全景深大幅图片的拼接方法
申请号	CN200510018921.1	申请日期	2005-06-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-01-04	公开/公告号	CN1715987
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02B21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02B 光学元件、系统或仪器（G02F优先；专用于照明装置或系统的光学元件入F21V 1/00至F21V 13/00；测量仪器见G01类的有关小类，例如，光学测距仪入G01C；光学元件、系统或仪器的测试入G01M 11/00；眼镜入G02C；摄影、放映或观看用的装置或设备入G03B；声透镜入G10K 11/30；电子和离子“光学”入H01J；X射线“光学”入H01J，H05G 1/00；结构上与放电管相组合的光学元件入H01J 5/16，H01J 29/89，H01J 37/22；微波“光学”入H01Q；光学元件与电视接收机的组合装置入H04N 5/72；彩色电视系统中的光学系统或装置入H04N 9/00；专门适用于透明或反射区的加热装置入H05B 3/84）〔1，7〕 G02B21/00 显微镜（目镜入G02B 25/00；偏振系统入G02B 27/28；测量显微镜入G01B 9/04；显微镜用切片机入G01N 1/06；扫描探针技术或设备入G01Q）〔1，7〕	IPC分类号	G;0;2;B;2;1;/;0;0;;;G;0;6;T;1;/;0;0;;;G;0;6;F;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	武汉理工大学	申请人地址	湖北省武汉市武昌珞狮路122号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉理工大学	当前权利人	武汉理工大学
发明人	严新平，吕植勇，萧汉梁，何晓昀，吴青，赵辉，李大光
代理机构	武汉开元专利代理有限责任公司	代理人	潘杰

摘要

本发明涉及一种显微镜下全景深大幅图片的拼接方法，该方法首先在显微镜下利用微观物体同一区域不同景深的序列图像，使用计算机图像处理技术重构成能够反映该区域所有聚焦范围内信息和背景信息的全景深重构图片，然后对相邻区域的全景深重构图片进行拼接，最终得到能够反映微观物体表面和背景信息的大幅全景深重构图片。本发明的有益效果是，克服了现有拼接技术中的不足，全面反映了显微镜下微观物体表面的完整信息。

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