智能天线系统中上行及下行通道相干性检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810129138.6
IPC分类号：H04W24/06;H04B17/00
申请日期：
2008-06-30
申请人：
中兴通讯股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	智能天线系统中上行及下行通道相干性检测方法
申请号	CN200810129138.6	申请日期	2008-06-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-01-06	公开/公告号	CN101621824
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04W24/06 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04W 无线通信网络〔2009.01〕 H04W24/00 监督，监控或测试装置〔2009.01〕 H04W24/06 使用仿真业务量进行测试〔2009.01〕	IPC分类号	H;0;4;W;2;4;/;0;6;;;H;0;4;B;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	中兴通讯股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中兴通讯股份有限公司	当前权利人	中兴通讯股份有限公司
发明人	秦洪峰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种智能天线系统中上行及下行通道相干性检测方法，上行检测方法包括：通过校正天线或耦合网络校正口发射检测信号，智能天线中各天线和/或其对应的上行通道接收所述检测信号；接收的检测信号与对应通道的上行通道校正权值相乘，得到响应信号；计算任意两个待测通道响应信号的同相合成功率及反相合成功率，将同相合成功率及反相合成功率的比值与设定阈值进行比较，若大于或等于设定阈值则两通道的相干性达标，否则两通道的相干性不达标。下行检测方法与上行检测方法类似，同样利用校正天线或耦合网络校正口进行检测。本发明不仅检测效率明显提高，而且能够精确判断任意两个通道之间的相干性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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