一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置

1.一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，包括下列步骤：
步骤A：建立虚拟测试UE，并设置多径搜索窗起始位置，在预定数目范围内产生随机数目的多径；
步骤B：向所述虚拟测试UE添加上述步骤A产生的多径，被测试的基带处理芯片开始解调；
步骤C：不断产生新的多径，所述新产生的多径落在所述多径搜索窗内，所述搜索窗起始位置向右或向左漂预定步进长度；
步骤D：对所述虚拟测试UE的多径进行管理，被测试的基带处理芯片开始解调；
步骤E：重复步骤C、步骤D，直到搜索窗起始位置漂移到预定位置。
2.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，完成步骤E后，删除测试UE多径，删除测试UE，然后从步骤A开始重新测试。
3.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，步骤A中设置多径搜索窗起始位置在帧头。
4.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，在步骤B和步骤D中，被测试的基带处理芯片开始解调后，进一步包括下列步骤：通过读取所述处理芯片中解调结果判断是否出错。
5.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，在所述步骤D中，根据新产生的多径对所述虚拟测试UE的多径进行管理，包括对原有径相位更新、删除多余径或添加多径。
6.如权利要求5所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，在所述步骤B和所述步骤D中，所述添加多径为：在本次操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset＋搜索窗宽度内的随机值。
7.如权利要求2所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，在所述步骤D中，包括下列步骤：在本次操作多径条数NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目为OldFingerNum－NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理。
8.如权利要求2所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，在所述步骤E中，搜索窗起始位置漂移到预定位置为，搜索窗起始位置PathOffset至少超过一帧，即PathOffset>38400chips。
9.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，在无线基站侧的天线数据以噪声数据为信号源，且已经通过与仿真结果比较方式验证了所述被测试的基带处理芯片解静态多径的正确性时，进一步包括下列步骤：
建立一个参考UE，所述参考UE的多径相位与时延与所述测试UE的多径相位与时延相同，并接收所述被测试的基带处理芯片解调后的数据，通过比较两者的解调结果，判断所述测试UE解调结果是否正确。
10.如权利要求6所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于，所述新产生的多径的相位通过如下方式确定：
在搜索窗起始位置PathOffset至（PathOffset+跳动范围－搜索窗宽度－预定步长）范围内取一随机值TempOffset，即本次多径相位在上次的基础上可在跳动范围内跳动；在TempOffset至TempOffset＋搜索窗宽度内产生NewFingerNum个随机值，其中，TempOffset为搜索窗起始位置的临时变量。
11.一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的装置，其特征在于，包括多径产生单元、多径管理单元，其中，
所述多径产生单元，用于建立虚拟测试UE，并在预定数目范围内产生随机数目的多径，并控制搜索窗起始位置，以及控制搜索窗向右或向左漂预定步进长度；
多径管理单元，用于向所述虚拟测试UE不断重复添加所述多径产生单元产生的多径，并通知被测试的基带处理芯片开始解调，以及根据多径产生单元不断产生的多径情况，对所述虚拟测试UE的多径进行动态管理，直到搜索窗起始位置漂移到预定位置。
12.如权利要求11所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的装置，其特征在于，进一步包括解调结果分析单元，用于在多径管理单元对虚拟测试UE的多径进行动态管理下，通过不断读取分析所述基带处理芯片中解调结果判断是否出错。
13.如权利要求11所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的装置，其特征在于，所述多径管理单元，对所述虚拟测试UE的多径进行管理包括原有径相位更新、删除多余径或新增加径。
14.如权利要求12所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的装置，其特征在于，所述多径管理单元，进一步用于在本次操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset＋搜索窗宽度内的随机值；以及用于在本次操作多径条数NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目为OldFingerNum－NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理。

一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和\n装置\n技术领域\n[0001] 本发明涉及无线通信、数字集成电路技术领域，特别涉及一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置。\n背景技术\n[0002] 基站侧基带处理集成电路设计不像一般软件开发，可以随时维护升级，芯片只要检测出存在不满足系统功能与性能的故障，就必须得改版重新设计，不仅需要延长芯片开发周期，而且也会大大提高产品成本，所以必须制定一个完备、严谨的测试方案，设计有效的测试用例来做验证与测试。\n[0003] 一般的验证与测试方法是在做集成电路开发的同时设计好仿真链路或参考模型，用仿真链路产生的参考结果与实际测试结果比较，在现场可编程门阵列(FPGA)验证阶段也可通过上架系统测试，通过使用实际的移动终端来验证集成电路是否满足设计要求。\n[0004] 在通用陆地移动信道中，无线电波传输的特点是多反射、衍射和信号能量的衰减。\n这是由于空间存在一些必然的障碍，如建筑物、山丘、隧道等造成的，从而产生了所谓的多径传播的结果，如附图1所示。由于无线终端在不停的移动，环境不断的变化，所以基站侧收到多径的相位，多径的条数、能量、时延及频偏也在不断的变化。显然通过仿真链路模拟各种条件产生参考数据来验证测试集成电路工作在不断变化的环境中的功能与性能是有局限的，不可能人为模拟这么多场景，场景千变万化很难考虑周全，而且时间上也不允许；\n在上架系统外场测试中，通过车载移动终端在实际环境中穿行来测试集成电路，也不能保证测试车能跑遍各种环境，首先车载终端只能沿着道路移动，碰到障碍或不存在道路的环境就无法测试，即使在广阔的平原也不能覆盖式地跑遍，所以无法保证测试的覆盖率。\n发明内容\n[0005] 本发明的目的在于，提供一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法。\n[0006] 本发明的另一目的在于，提供一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的装置。\n[0007] 本发明的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，包括下列步骤：\n[0008] 步骤A：建立虚拟测试UE，并设置多径搜索窗起始位置，在预定数目范围内产生随机数目的多径；\n[0009] 步骤B：向所述虚拟测试UE添加上述步骤A产生的多径，被测试的基带处理芯片开始解调；\n[0010] 步骤C：不断产生新的多径，所述新产生的多径落在所述多径搜索窗内，所述搜索窗起始位置向右或向左漂预定步进长度；\n[0011] 步骤D：对所述虚拟测试UE的多径进行管理，被测试的基带处理芯片开始解调；\n[0012] 步骤E：重复步骤C、步骤D，直到搜索窗起始位置漂移到预定位置。\n[0013] 其中，在完成步骤E后，可以删除测试UE多径，删除测试UE，然后从步骤A开始重新测试。\n[0014] 另外，步骤A中设置多径搜索窗起始位置在帧头。\n[0015] 其中，在步骤B和步骤D中，被测试的基带处理芯片开始解调后，可进一步包括下列步骤：通过读取所述处理芯片中解调结果判断是否出错。\n[0016] 其中，在所述步骤D中，根据新产生的多径对所述虚拟测试UE的多径进行管理，包括对原有径相位更新、删除多余径或添加多径。\n[0017] 其中，在所述步骤B和所述步骤D中，所述添加多径为：在本次操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset+搜索窗宽度内的随机值。\n[0018] 其中，在所述步骤D中，包括下列步骤：在本次操作多径条数NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目为OldFingerNum-NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理。\n[0019] 其中，在所述步骤E中，搜索窗起始位置漂移到预定位置为，搜索窗起始位置PathOffset至少超过一帧，即PathOffset>38400chips。\n[0020] 另外，在无线基站侧的天线数据以噪声数据(信号幅度非零)为信号源，且已经通过与仿真结果比较方式验证了所述被测试的基带处理芯片静态多径的正确性时，在所述步骤A中，进一步包括下列步骤：建立一个参考UE，所述参考UE的多径相位与时延与所述测试UE的多径相位与时延相同，并接收所述被测试的基带处理芯片解调后的数据，通过比较两者的解调结果，判断所述测试UE解调结果是否正确。\n[0021] 其中，所述新产生的多径的相位通过如下方式确定：\n[0022] 在搜索窗起始位置PathOffset至(PathOffset+跳动范围-搜索窗宽度-预定步长)范围内取一随机值TempOffset，即本次多径相位在上次的基础上可在跳动范围内跳动；在TempOffset至TempOffset+搜索窗宽度内产生NewFingerNum个随机值，其中，TempOffset为搜索窗起始位置的临时变量。\n[0023] 本发明的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的装置，包括多径产生单元、多径管理单元，其中，所述多径产生单元，用于建立虚拟测试UE，并在预定数目范围内产生随机数目的多径，并控制搜索窗起始位置，以及控制搜索窗向右或向左漂预定步进长度；\n多径管理单元，用于向所述虚拟测试UE添加所述多径产生单元产生的多径，并通知被测试的基带处理芯片开始解调，以及根据上次与本次多径产生单元产生的多径情况，对所述虚拟测试UE的多径进行动态管理。\n[0024] 其中，可以进一步包括解调结果分析单元，用于在多径管理单元对虚拟测试UE的多径进行动态管理下，通过不断读取分析所述基带处理芯片中解调结果判断是否出错。\n[0025] 其中，所述多径管理单元，对所述虚拟测试UE的多径进行管理包括原有径相位更新、删除多余径或新增加径。\n[0026] 其中，所述多径管理单元，进一步用于在本次操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset+搜索窗宽度内的随机值；以及用于在本次操作多径条数NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目为OldFingerNum-NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理。\n[0027] 本发明的有益效果是：依照本发明的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置，能够模拟移动终端在真实环境中穿行，只要保证测试时间不太短(不少于\n48小时)，基本能遍历到各种场景，大大提高了测试覆盖率与芯片性能；测试用例可以自动产生，不需要经过仿真链路一一验证，也不要真实车载UE穿行于各种环境中，这将为测试提供很大方便，而且也会大大缩短测试时间；因测试用例由软件产生，测试流程与配置参数都可以实时记录下来，当出现异常时，可以复现场景，便于定位分析问题。\n附图说明\n[0028] 图1为无线信道多径传播的示意图；\n[0029] 图2为本发明模拟多径搜索的示意图；\n[0030] 图3为本发明实施例二的时序关系图。\n具体实施方式\n[0031] 以下，参考附图1～3详细描述本发明的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置。\n[0032] 本发明的核心思想是：通过模拟移动终端在陆地复杂环境中不断移动，产生变化的多径(例如多径相位漂移、多径条数变化、多径时延变化等)来满足无线基站侧基带处理芯片中多径解调模块的测试需求，制造各种测试用例模拟真实环境的变化，例如多径的建立、删除、更新，以及多径前/后跨迭代周期(Iteration Period，IP)、前/后跨时隙(Slot)、前/后跨帧(Frame)等情况的建立、更新，使之既能覆盖到正常情况，又能覆盖到边界特殊情况，以遍历测试多径解调能力。\n[0033] 实施例一\n[0034] 具体地，本发明实施例一包括下列步骤：\n[0035] 步骤101：建立一个虚拟测试UE，位置靠近NodeB基站，即设多径搜索窗起始位置在帧头，通过随机算法产生多径，确定多径的相位与时延(在搜索窗内任取多条径)。\n[0036] 其中，在步骤101中，通过随机算法产生多径，确定多径的相位与时延(在搜索窗内任取多条径)，包括下列步骤：\n[0037] 设置如下全局变量，并分别进行初始化：上次操作多径条数OldFingerNum＝0、本次操作多径条数NewFingerNum＝0、搜索窗起始位置PathOffset＝0；在预定数值范围(例如0至8)内随机选取一个数值作为本次操作多径条数NewFingerNum。\n[0038] 另外，多径条数需要满足多径解调模块(Finger Despreader，FD)多径约束，多径都落在搜索窗内，如附图2中的A.测试UE。\n[0039] 步骤102：依照步骤101产生的多径相位与时延向虚拟测试UE添加多径，集成电路FD模块开始解调，通过读取保存于集成电路寄存器中的状态字及报警信息判断系统是否出错。其中，根据集成电路FD模块进行解调，以及通过读取保存于集成电路寄存器中的状态字及报警信息判断系统是否出错为现有技术，本发明不再详细描述。\n[0040] 其中，在步骤102中，依照多径相位与时延向虚拟测试UE添加多径为：在本次操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理(Update Finger Delay)以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset+搜索窗宽度内的随机值。\n[0041] 步骤103：解调一段时间后，再通过随机算法产生一组多径，多径落在搜索窗内，搜索窗起始位置向右(或左)漂一定步进长度，例如，PathOffset＝PathOffset+步长(缺省为10Chips)，如附图2中的B.测试UE所示。\n[0042] 步骤104：根据新产生的多径对测试UE的多径进行管理(如原有径相位更新，删除多余径或新增加径等)，集成电路FD模块开始解调，通过读取保存于集成电路寄存器中的状态字及报警信息判断系统是否出错。\n[0043] 其中，在步骤104中，根据新产生的多径对测试UE的多径进行管理，包括下列步骤：\n[0044] 在本次操作多径条数NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目为OldFingerNum-NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理；\n[0045] 在本次操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset+搜索窗宽度内的随机值。\n[0046] 步骤105：重复步骤103、步骤104，直到搜索窗起始位置漂移到一预定位置，至少超过一帧，一帧为38400chips，即PathOffset>38400，每个Chip无线直线传输距离约为78米后，删除测试UE多径，删除测试UE，并设置OldFingerNum＝NewFingerNum，然后从步骤\n101开始重新测试。\n[0047] 这样通过循环测试，直到人为终止查看报告信息，或系统出错后自动停止，定位到出错处。\n[0048] 此外，还可以通过根据测试精度等要求设置循环次数门限值，例如超过50000次，以通过增加测试次数保证测试充分性。\n[0049] 在上述实施例中，只测控制流程，适合在集成电路前期调试阶段，测试控制链路是否正常，不需比较解调结果正确性。\n[0050] 实施例二\n[0051] 另外，在满足天线数据以噪声数据(信号幅度非零)为信号源，以及已经通过与仿真结果比较等方式验证了FD解静态多径的正确性的前提下，本发明实施例二具体包括下列步骤：\n[0052] 步骤201：建立一个虚拟测试UE，位置靠近NodeB基站，即设多径搜索窗起始位置在帧头，通过随机算法产生多径，确定多径的相位与时延，如附图2中A.测试UE所示，多径条数满足FD多径约束，多径都落在搜索窗内；同时建立一个参考UE，多径相位、时延与测试UE完全一样，接收FD解调数据，通过比较两者的解调结果，判断测试UE解调的正确性。\n[0053] 其中，在步骤201中，包括下列步骤：设置全局变量CmpFlag：指示是否需要比较测试UE与参考UE的解调结果，例如0为不需比较；1为需比较；其中，初始化时，CmpFlag＝\n0。\n[0054] 其中，在步骤201中，通过随机算法产生多径，确定多径的相位与时延过程如下：\n[0055] 新径的条数：在0—8中取一个随机值作为本次“PM过程”径的条数N ewFingerNum；\n[0056] 新径的相位，搜索过程为：\n[0057] 在PathOffset 至 (PathOffset+1280-128-步 长 )范 围 内 取 一 随 机 值TempOffset，即本次多径相位在上次的基础上可以在1280Chips内跳动；在TempOffset至TempOffset+128Chips内产生NewFingerNum个随机值。\n[0058] 其中，TempOffset为搜索窗起始位置的临时变量。\n[0059] 另外，测试UE的多径管理过程如下：\n[0060] 在NewFingerNum>OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理及 添 加 新 径；在NewFingerNum< ＝OldFingerNum时，随 机 删 除OldFinger中 的(OldFingerNum-NewFingerNum)条径，对剩下的Finger进行多径偏移处理。\n[0061] 另外，参考UE的多径解调过程如下：\n[0062] 为参考UE0添加与测试UE同样相位的多径，置CmpFlag＝1，数据一上报就开始比较测试UE与参考UE的解调结果。\n[0063] 此外，解调结果比较过程如下：\n[0064] 等待30Slots时间，然后置CmpFlag＝0，同时数据处理任务Task根据CmpFlag标志比较测试UE与参考UE的解调结果，直至CmpFlag＝0停止。\n[0065] 步骤202：解调一段时间后删除参考UE多径，删除参考UE，以保证参考UE的“静态”(多径相位不发生漂移，因静态多径解调已通过其它途径验证正确。)。\n[0066] 步骤203：一定时间后，再通过随机算法产生一组多径，多径落在搜索窗内，如附图2所示，B.测试UE搜索窗起始位置向右(或左)漂一步进长度，例如，PathOffset＝PathOffset+步长(缺省为10Chips)。\n[0067] 步骤204：根据新产生的多径对测试UE的多径进行管理，如原有径相位更新、删除多余径或新增加径等；同时建立一个参考UE，多径相位、时延与测试UE完全一样，如附图2中C测试UE所示，接收测试UE与参考UE的FD解调数据，比较两者的解调结果，判断测试UE解调的正确性。\n[0068] 步骤205：重复步骤202至步骤204，直到搜索窗起始位置漂移到一预定位置(至少超过一帧，一帧为38400chips，每个Chip无线传输直线距离约为78米)后，同时删除测试UE与参考UE的多径，删除测试UE与参考UE，从步骤201开始重新测试。\n[0069] 这样通过循环测试，直到人为终止查看报告信息，或系统出错后自动停止，定位到出错处。\n[0070] 其中，参考UE停止、重建过程如下：参考UE发命令删除参考UE的所有多径；等待30Slots，等待多径彻底删除干净；删除参考UE；等待4Slots；重新建立参考UE；等待\n4Slots。\n[0071] 如果PathOffset>＝65000，则删除测试UE的所有径，删除旧测试UE，新建测试UE，置NewFingerNum＝0；\n[0072] OldFingerNum＝NewFingerNum。\n[0073] 重复上述步骤，超过5000次或更长。\n[0074] 依照如上所述，本发明实施例二既测控制流程，也测解调结果的正确性，适合在集成电路控制链路已基本稳定，通过其它方式已验证了静态UE(UserEquipment)多径解调结果的正确性。\n[0075] 两个实施例的区别是：后者需增加一个参考UE，并且比较测试UE的解调结果是否与参考UE的解调结果一致来判断移动UE多径解调的正确性。\n[0076] 具体地，实施二添加了参考UE，此参考UE为一静态UE，它能模拟的真实场景为：首先测试UE与参考UE同时开启接入无线网络与NodeB通讯，在NodeB端比较测试UE与参考UE的解调结果；然后确定下一个测试点，关闭参考UE(测试UE并不关闭)，把它移到下一测试点，测试UE也快速移到下一测试点，再重新开启参考UE，在NodeB端比较测试UE与参考UE的解调结果；再确定下一个测试点按前面的方法继续测试，直到人为终止测试或测出故障后系统自动定位到故障处。下一测试点的确定由实施例一或实施例二中的步骤三实现，通过这个算法及反复多次测试，能够模拟到使测试点落在真实环境中的各种场景中。因参考UE与测试UE的多径参数设置完全一样，所以理论上解调结果也应完全一致，所以能够做到比特级的对比，可以产生很精确的定量分析测试报告，而如果在实际场景中进行测试，两个UE不可能参数完全一致，只能从测试UE与参考UE或单从测试UE的语音效果、通讯数据误码率、误包率来做定性分析，达不到比特级对比，测试效果将大打折扣。\n[0077] 实施例一适合只对多径解调控制流程正确性进行测试，而实施例二既能对多径解调控制流程正确性进行测试，也能对解调数据正确性进行测试。\n[0078] 另外，需要说明的是，上述本发明的搜索窗起始位置设置在帧头仅为示例性说明，本发明并不局限于此，搜索窗起始位置可以人为控制，除从帧头开始测以外，还包括设在帧尾直接测跨帧的情况，或设在时隙尾直接测跨时隙的情况等。\n[0079] 另外，本发明的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的装置，包括多径产生单元、多径管理单元。\n[0080] 其中，多径产生单元，用于建立虚拟测试UE，并在预定数目范围内产生随机数目的多径，并确定多径的相位与时延，并控制搜索窗起始位置，以及控制搜索窗向右或向左漂预定步进长度；具体地，设置如下全局变量，并分别进行初始化：上次操作多径条数OldFingerNum＝0、本次操作多径条数NewFingerNum＝0、搜索窗起始位置PathOffset＝0；在预定数值范围(例如0至8)内随机选取一个数值作为本次操作多径条数NewFingerNum。另外，多径条数需要满足多径解调模块(Finger Despreader，FD)多径约束，多径都落在搜索窗内。\n[0081] 多径管理单元，根据多径产生单元产生的多径相位与时延向虚拟测试UE添加多径，并通知被测试的基带处理芯片开始解调，以及根据上次与本次多径产生单元产生的多径情况，对虚拟测试UE的多径进行动态管理。\n[0082] 其中，多径管理单元，对测试UE的多径进行动态管理，包括原有径相位更新、删除多余径或新增加径等。\n[0083] 具体地，在本次操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作多径进行多径偏移处理(Update Finger Delay)以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset+128Chips内的随机值；\n[0084] 在本次操作多径条数NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目为OldFingerNum-NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理。\n[0085] 另外，本发明可以进一步包括解调结果分析单元，通过读取保存于集成电路寄存器中的状态字及报警信息判断系统是否出错。\n[0086] 另外，多径管理单元，进一步用于在解调一段时间后，通过随机算法产生一组多径，多径落在搜索窗内，搜索窗起始位置向右(或左)漂一定步进长度(例如PathOffset+＝10)；\n[0087] 多径管理单元，进一步用于在搜索窗起始位置漂移到一预定位置(至少超过一帧，一帧为38400chips，即PathOffset>38400，每个Chip无线直线传输距离约为78米)后，删除测试UE多径，删除测试UE，并设置OldFingerNum＝NewFingerNum＝0，然后开始重新测试。\n[0088] 综上所述，依照本发明的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置，能够模拟移动终端在真实环境中穿行，只要测试时间足够长，基本能遍历到各种场景，如多径漂移，多径增加，多径减少，多径消失，多径跨IP，多径跨时隙，多径跨帧等情况，大大提高了测试覆盖率与测试效率；测试用例可以自动产生，不需要经过仿真链路一一验证，也不要真实车载UE穿行于各种环境中(当然后期系统上架测试需要进行外场测试)，这将为测试提供很大方便，而且也会大大缩短测试时间；因测试用例由软件产生，测试流程与配置参数都可以实时记录下来，当出现异常时，可以复现场景，便于定位分析问题。\n[0089] 以上是为了使本领域普通技术人员理解本发明，而对本发明所进行的详细描述，但可以想到，在不脱离本发明的权利要求所涵盖的范围内还可以做出其它的变化和修改，这些变化和修改均在本发明的保护范围内。