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基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202111053545.5
  • IPC分类号:H04B10/079;H04B10/548
  • 申请日期:
    2021-09-09
  • 申请人:
    苏州大学
著录项信息
专利名称基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置
申请号CN202111053545.5申请日期2021-09-09
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-10-22公开/公告号CN113541789A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04B10/079IPC分类号H;0;4;B;1;0;/;0;7;9;;;H;0;4;B;1;0;/;5;4;8查看分类表>
申请人苏州大学申请人地址
江苏省苏州市吴中区石湖西路188号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人苏州大学当前权利人苏州大学
发明人周沛;谢溢锋;李念强;江芝东;周志华
代理机构苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)代理人王广浩
摘要
本发明公开了一种基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置,其包括:微波功分器、激光器、光环行器、第一支路、第二支路、光耦合器、光电探测器和信号分析装置,第一支路中依次设置有双向光相位调制器、第一光纤布拉格光栅、单模光纤,第二支路中依次设置有第二光纤布拉格光栅和可调光延时线,光环行器设置有三个端口,三个端口分别与激光器、双向光相位调制器、第二光纤布拉格光栅连接。本发明利用单个双向光相位调制器实现全光域混频功能,避免了电混频器的使用,减少了微波放大器等有源器件的使用。具有结构简单,成本低廉,工作带宽大,响应平坦的优点,降低了相位噪声测量系统噪底,提高了测量精度与灵敏度。

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