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熔融玻璃电导率测试装置及其方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410781097.4
  • IPC分类号:G01R27/22
  • 申请日期:
    2014-12-16
  • 申请人:
    成都光明光电股份有限公司
著录项信息
专利名称熔融玻璃电导率测试装置及其方法
申请号CN201410781097.4申请日期2014-12-16
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-03-04公开/公告号CN104391179A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R27/22IPC分类号G;0;1;R;2;7;/;2;2查看分类表>
申请人成都光明光电股份有限公司申请人地址
四川省成都市龙泉驿区成龙大道三段359号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人成都光明光电股份有限公司当前权利人成都光明光电股份有限公司
发明人王竑;胡斌;张祖义
代理机构成都希盛知识产权代理有限公司代理人蒲敏
摘要
本发明提供一种能够对各种玻璃在软化点温度至1600℃的温度范围内的电导率进行测试的装置及其方法。熔融玻璃电导率测试装置,铂金坩埚放置在底座上,绝缘套筒放置于铂金坩埚内,所述绝缘套筒的内壁设置有台阶,电极片放置在台阶上,所述电极片、铂金坩埚的底部分别通过导线与PLC数字电桥连接,PLC数字电桥与电脑连接,并将PLC数字电桥的测试电阻值传给电脑。本发明的电导率测试装置可测量的温度范围广,可以从待测玻璃的软化点温度到1600℃进行连续测量,并给出数据曲线。本发明的电导率测试装置适用于各种粘度大小的熔融玻璃的电导率测试。

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