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建链逻辑的测试方法及相关设备

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110302566.X
  • IPC分类号:G06F11/22
  • 申请日期:
    2021-03-22
  • 申请人:
    西安紫光国芯半导体有限公司
著录项信息
专利名称建链逻辑的测试方法及相关设备
申请号CN202110302566.X申请日期2021-03-22
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2021-06-08公开/公告号CN112925684A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/22IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人西安紫光国芯半导体有限公司申请人地址
陕西省西安市高新区丈八街办高新六路38号A座4楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安紫光国芯半导体有限公司当前权利人西安紫光国芯半导体有限公司
发明人樊世杰;左丰国;王玉冰
代理机构北京众达德权知识产权代理有限公司代理人吴莹
摘要
本申请实施例通过提供一种建链逻辑的测试方法及相关设备,解决了在建链逻辑测试过程中,设备间“握手”操作会因协同因素而导致测试结果准确性较低的问题。该方法包括:获取目标设备的串行接口的发送端发送的码流信息,所述目标设备为主机设备或从机设备,所述码流信息为当设备之间建立通信联系时的验证信息;将所述码流信息转发至所述串行接口的接收端;获取所述串行接口的状态信息,所述状态信息是所述串行接口在所述接收端接收到码流信息后生成的;根据所述状态信息执行测试操作得到测试结果。

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