一种闪存存储器子卡测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710176428.1
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2007-10-26
申请人：
中兴通讯股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种闪存存储器子卡测试方法
申请号	CN200710176428.1	申请日期	2007-10-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-03-19	公开/公告号	CN101145402
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	中兴通讯股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中兴通讯股份有限公司	当前权利人	中兴通讯股份有限公司
发明人	夏伟年
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种闪存(FLASH)存储器子卡测试装置及方法，该装置包括：直流(DC)电源、电源监控芯片、单片机、时钟晶振、译码器、驱动器、移位寄存器及状态指示灯电路；该方法包括：插好待测的FLASH存储器子卡，打开DC电源，由电源监控芯片完成上电复位后，通知单片机开始工作，单片机通过译码器及控制总线驱动器对FLASH存储器子卡进行片选，再通过地址总线驱动器、数据总线驱动器对FLASH存储器子卡进行测试，最后通过状态指示灯电路和状态指示灯驱动器显示测试结果，利用本发明，可以一次测试最多八个FLASH存储器子卡，提高FLASH存储器子卡的生产测试效率和测试的有效性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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