一种光路互易的集成BGO晶体光波导闭环电场检测系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010141787.9
IPC分类号：G01R29/12
申请日期：
2020-03-04
申请人：
中国地质大学（武汉）;北京东方计量测试研究所

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专利名称	一种光路互易的集成BGO晶体光波导闭环电场检测系统
申请号	CN202010141787.9	申请日期	2020-03-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-07-10	公开/公告号	CN111398694A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/12 静电场的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;2查看分类表>
申请人	中国地质大学（武汉）;北京东方计量测试研究所	申请人地址	湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国地质大学（武汉）,北京东方计量测试研究所	当前权利人	中国地质大学（武汉）,北京东方计量测试研究所
发明人	陈秋荻;杨铭;胡煌;张宇;王瑾;龙丹;韩炎晖
代理机构	武汉知产时代知识产权代理有限公司	代理人	郝明琴

摘要

本发明提供一种光路互易的集成BGO晶体光波导闭环电场检测系统，包括：SLD宽带光源、环形器、起偏器、相位调制器、BGO集成光波导电场传感器、光电探测器和信号处理模块，BGO集成光波导电场传感器为一种在对称的BGO晶体上采用飞秒激光刻画的具有光路互易性的光波导结构，使正交偏振模式在经过两晶体后，走过了相同长度的光路，因此自然双折射产生的相位差成功被抵消。本发明消除了由自然双折射和温度变化、气体压力引起的相位误差，通过引入反馈相位差，可以进一步减小系统的非线性误差，同时增大系统的动态范围。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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