太赫兹成像装置和太赫兹成像方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910135979.2
IPC分类号：G01N23/02;G01N21/84;G01J3/453
申请日期：
2009-05-07
申请人：
深圳先进技术研究院

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著录项信息

专利名称	太赫兹成像装置和太赫兹成像方法
申请号	CN200910135979.2	申请日期	2009-05-07
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-10-28	公开/公告号	CN101566589
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;2;;;G;0;1;N;2;1;/;8;4;;;G;0;1;J;3;/;4;5;3查看分类表>
申请人	深圳先进技术研究院	申请人地址	广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1068号A211 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳先进技术研究院,深圳市中科先进教育科技发展有限公司	当前权利人	深圳先进技术研究院,深圳市中科先进教育科技发展有限公司
发明人	金雷;张元亭;龚小竞;杨郡;张艳东
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司	代理人	曾旻辉

摘要

本发明涉及一种太赫兹成像装置和太赫兹成像方法。所述太赫兹成像装置包括太赫兹脉冲发射装置、分振幅干涉装置、探测器；所述分振幅干涉装置将太赫兹脉冲发射装置发射的太赫兹脉冲分为参考光和信号光；并且使参考光和信号光的光程差小于一个波列长度，此时，参考光和信号光发生分振幅干涉，产生包含有样品信息的太赫兹脉冲分振幅干涉信号；所述探测器接收太赫兹脉冲分振幅干涉信号，产生包含有样品信息的电信号。所述太赫兹成像装置是采用分振幅干涉的手段对样品进行成像，因此可以对样品进行真正的三维成像，并且具有高分辨率和高信噪比的优点。与传统的太赫兹成像技术相比，本发明在光学成像领域可以说是一个开拓性发明。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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